Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Батаев М$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
1. |
Батаев М. Влияние протонного облучения на AlGaN/GaN транзисторы c высокой подвижностью электронов [Електронний ресурс] / М. Батаев, Ю. Батаев, Л. Бриллсон // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2011. - Т. 9, Вип. 1. - С. 85-92. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2011_9_1_12 Деградация транзисторов под влиянием протонного облучения с энергией 1,8 МэВ измерялась до плотности протонного излучения <$E 3~cdot~10 sup 15~roman см sup -2>. Структуры с высокой электронной подвижностью на основе AlGaN/AlN/GaN имеют более высокое значение электронной мобильности, чем структуры на основе AlGaN/GaN, и обладают более высокой радиационной стойкостью с отсутствием затухания электрических свойств до значения интегральной плотности потока протонов 10<^>14 см<^>-2. Измеряемые электрофизические параметры транзисторных структур продемонстрировали уменьшение максимальной крутизны вольтамперных характеристик, увеличение порогового тока и уменьшение тока насыщения. Основными механизмами деградации структур под влиянием протонного излучения являются уменьшение подвижности носителей вследствие увеличения рассеяния носителей на границе и уменьшение плотности носителей в канале в результате перемещения носителей на глубокие уровни из зоны проводимости.
|
|
|